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IC卡动态弯曲双向扭试验机用于检测磁条卡，IC芯片卡，集成电路卡，等卡的弯曲和扭曲性能测试。

IC卡动态弯曲双向扭试验机简介：本仪器针对性IC卡在国标GB/T 16649.1，国标GB/T-17554.1-2006及ISO10373和ISO7816-1998国际标准等试验标准中的弯曲、扭矩的试验; 完全符合以上标准。

IC卡动态弯曲双向扭试验机技 术 参 数

1. 型号：MX-IC

2.    扭曲度 ：±15°±1° 雙向d=86 mm

3.    正反向各15°，总扭曲角度30°

4.測試周期：1~9999次

5.測試速度：彎曲 扭曲30r/min及0.5Hz

6.长边最大位移量为20mm(+0.00mm,-1 mm)

7.长边最小位移量为2mm±0.50mm

8.短边最大位移量为10mm(+0.00mm,-1 mm)

9.长边最小位移量为1mm±0.50mm

10.電 壓：AC220V±5%

11.外形尺寸：L670 X W380 X H220

12.功 率：35W

13.儀器重量：70kg

根据客户要求订制：双向扭转最大工位数：10工位